วิเคราะห์และทดสอบในห้องปฏิบัติการ

อุทยานวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี ให้บริการทุนสำหรับถ่ายทอดองค์ความรู้และเทคโนโลยี และทุนวิจัยร่วมกับภาคเอกชน เพื่อส่งเสริมให้นักวิจัยผลิตงานวิจัยจากโจทย์ความต้องการที่แท้จริงของภาคเอกชน และสนับสนุนให้ภาคเอกชนนำผลงานวิจัยและนวัตกรรมไปใช้ประโยชน์ในเชิงพาณิชย์ โดยมีทุนสนับสนุนในรูปแบบต่างๆ ดังต่อไปนี้

เลือกเมนู

การตรวจวิเคราะห์โครงสร้างและพื้นผิวตัวอย่างทางด้านวัสดุศาสตร์ได้ถึงระดับนาโน ประกอบด้วย เครื่องตรวจวิเคราะห์ธาตุด้วยรังสีเอกซ์จากตัวอย่างและชุดวิเคราะห์การจัดเรียงผลึกของธาตุจากการกระเจิงของอิเล็กตรอนสะท้อนกลับ

บริการวิเคราะห์ทดสอบ

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

พืช

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

สัตว์

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

แบคทีเรีย

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

ไม้

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

เลือด

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

เส้นใย

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

เหล็ก โลหะ 

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

ดิน ฝุ่น

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

สารสังเคราะห์

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

ซีเมนต์

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

แร่

บริการวิเคราะห์ตัวอย่างโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) labs/equipment

ไข่มุก

เครื่อง Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM)

สมรรถนะหลักของเครื่อง

  1. Resolution ของภาพจาก Secondary Electron 0.8 nm @ 15 kV, 1.5 nm @ 1kV
  2. ขยายภาพได้ในช่วง 12 – 2,000,000 เท่า
  3. เลือกใช้ได้ทั้ง Secondary Electron Image (SEI) และ Backscattered Electron Image (BEI)
  4. ปรับเลือกค่า Accelerating voltage ได้ตั้งแต่ 0.02 – 30 kV
  5. ปรับเลือกค่า Probe Current ได้ในช่วง 5 pA ถึง 20 nA

ระบบอิเล็กตรอนออพติก

  1. ชนิด Schottky field emission gun
  2. Condender lens เป็นชนิด Electromagnetic lens
  3. มีระบบ beam booster ที่สามารถชะลอลำอิเล็กตรอนให้กระทบผิวชิ้นงานให้ได้ภาพที่มีคุณภาพสูง

ตัวตรวจวัด (Detector)

  1. In-lens Duo detector : in-lens secondary electron (SE) และ energy selective backscattered detection (EsB)
  2. เครื่องตรวจวิเคราะห์ธาตุด้วยรังสีเอกซ์ (EDX) ยี่ห้อ Oxford รุ่น Aztec
    – พื้นที่รับพลังงาน 50 mm2
    –  
    ความละเอียดในการแยกแยะ ไม่เกิน 127 eV เมื่อวัดด้วย MnKa
    – อัตราการตรวจจับสัญญาณ 50,000 นับต่อวินาที (cps)
  3. ชุดวิเคราะห์การจัดเรียงผลึกของธาตุจากการกระเจิงของอิเล็กตรอนสะท้อนกลับ (EBSD) : ยี่ห้อ Oxford รุ่น Nordlys Max

แท่นวางตัวอย่าง และ ห้องตัวอย่าง

  1. Eucentric stage หมุนได้ 5 แทน X.Y,Z เอียงและหมุน 360 องศา
  2. รองรับขนาดตัวอย่างได้ถึง 330 * 330 *270 mm น้ำหนักไม่เกิน 0.5 kg

อัตราค่าบริการ

ลำดับ

รายการ

ค่าบริการ

1.

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด
( Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) )

2,500 บาท/ชั่วโมง
(ค่าบริการใช้เครื่องมือต่อ 1 ชัวโมง)

2.

ค่าบริการวิเคราะห์ด้วยเทคนิค EDS
(เพิ่มการวิเคราะห์ mapping คิดตัวอย่างละ 200 บาท)

1,000 บาท/ชั่วโมง

3.

ค่าบริการวิเคราะห์ธาตุด้วยเทคนิค EBSD

1,000 บาท/ชั่วโมง

4.

ค่าแผ่น CD บันทึกข้อมูล

50 บาท/แผ่น

5.

ค่าเตรียมตัวอย่างทางชีววิทยา (ตัวอย่างสด)

900-1,500 บาท/ตัวอย่าง

6.

การทำแห้งด้วย Critical Point Dryer

700 บาท/ครั้ง

7.

ฉาบทอง

500 บาท/ครั้ง

8.

ฉาบคาร์บอน

500 บาท/ครั้ง

9.

ทำ Hot Mount Resin ขัดผิวและกัดกรด

800 บาท/ครั้ง

standard-abbreviation

ศูนย์เครื่องมือวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี
 มหาวิทยาลัยวลัยลักษณ์
222 ต.ไทยบุรี อ.ท่าศาลา จ.นครศรีธรรมราช 80160

อาจารย์ ดร. จิราพร ชินกุลพิทักษ์
ผศ.ดร. ชุติมา จันทรัตน์
คุณวิธัญญรัชฎิ์ บุญทองช่วย
Tel : 0-7567-3242

Scroll to Top